日立X-MET8000在分析質子膜貴金屬擔載量的應用

X射線熒光（XRF）是一種分析技術，廣泛用于分析貴金屬擔載量分析。它提供可靠和快速的分析（在幾秒鐘內即可獲得結果），是非破壞性的（分析后無需報廢樣品），任何操作員只需很少的培訓即可使用。臺式XRF分析儀通常用于測量小型部件，而手持式XRF分析儀則提供真正的便攜式分析，非常適合在任何位置測試大型和/或重型部件。日立****的X-MET8000 手持式分析儀結合了高性能 X 射線管和高分辨率硅漂移探測器 （SDD），可提高質子膜貴金屬擔載量分析所需的速度和性能。其堅固性（IP54等級）和較長的電池壽命（長達 10-12 小時）使其成為進貨或庫存檢查以及過程和質量控制的**工具。

分析前無需樣品制備。用戶只需將分析儀測量窗口放在待測部件上，然后按下扳機即可開始分析。初始結果會在 2 秒內顯示在分析儀的集成觸摸屏上，并迅速更新測量結果直至測量結束。貴金屬擔載量的典型分析時間為10-30秒。

通過在待測樣品表面讀取多個讀數，或在分析過程中將X-MET8000的測量窗口滑過樣品表面，可以快速驗證大面積樣品的擔載量均勻性。

在測試小型部件時，X-MET8000 的小光斑和相機選項可用于將 X-MET8000 的測量窗口**定位在樣品上，并測量尺寸小至 3 毫米的部件。

X-MET8000經過校準后（可由客戶自由校準）可為分析PEM貴金屬擔載量提供準確且穩定的結果。X-MET 8000的易用性和堅固性使其成為車間工藝和質量控制的理想工具。校準軟件的多功能性還可以分析其他種類的PEM樣品（單元素和多元素），確保快速監測貴金屬的擔載量。由于X-MET8000的屏幕上可以在幾秒鐘內顯示結果，因此可以當場做出接受或拒絕產品或修改生產過程的決定，從而**限度地提高生產率并節省成本。