比例計數器與SDD：XRF探測器類型是否重要

SDD給出元素之間的更好分辨率，尤其是在光譜中彼此靠近時。

紅色峰值顯示SDD光譜，綠色區域顯示使用比例計數器獲得的同一樣品的光譜。由圖所知，SDD更易識別和測量此樣品中鐵、鎳和鋅的實際成分。

背景輻射始終存在于測量過程。SDD的背景水平通常要低得多，可檢測PPM范圍內的微量元素或污染物。對于比例計數器，背景變化可導致檢測不到樣品中所存在的元素。

用帶比例計數器的Lab-X3500和帶SDD的LAB-X5000儀器的進行實際測量，并比較性能。該測試旨在測量石灰石樣品中的六種不同的成分：鎂、鋁、硅、鉀、鈣和鐵。

比例計數器完成六種元素的分析總共需要6.6分鐘和4個激發條件。

SDD僅需3分鐘便可分析樣品中的相同元素。

LAB-X5000的速度是Lab-X3500的兩倍，并且這還是分析較常見的情況。

比例計數器的分析儀是一些簡單應用的良好解決方案。

但是，如果您是大容量設施，并且XRF分析正在導致生產瓶頸，且您需要較低檢測下限以識別雜質或微量元素或正在測量元素周期表中鄰近的元素，需要更優分辨率以對結果更有信心，SDD儀器是您的不二選擇。

SDD還提供更優結果并有可能降低分析成本。某些應用，可在無需氦氣吹掃的情況下測量輕元素，并且包含通過Wi-Fi自動將數據導出至ExTOPE Connect云的功能，從而實現靈活的數據管理。

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