實(shí)驗(yàn)室光譜儀如何更好的達(dá)到準(zhǔn)確、精密、穩(wěn)定

         鑄造廠在冶煉過(guò)程中可利用直讀光譜儀（OES）快速準(zhǔn)確測(cè)量材料的化學(xué)成分。

如果未定期對(duì)OES進(jìn)行驗(yàn)證、維護(hù)和重新校準(zhǔn)，其性能可能會(huì)下降。

由于火花光譜儀使用相對(duì)而非絕對(duì)測(cè)量，因此準(zhǔn)確測(cè)定受分析物質(zhì)的濃度或數(shù)量限制。這就需要校準(zhǔn)和有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRMs）發(fā)揮作用。

您是否需要進(jìn)行類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化？

您是否遇到過(guò)盡管使用了大量的CRMs進(jìn)行校準(zhǔn)，但仍能看到偏差？

出現(xiàn)此種情況的原因有很多：

?    大多數(shù)CRM是合成制造的。這意味著無(wú)法保證其與待分析樣品的成分或結(jié)構(gòu)相匹配。

?    光譜外端上的合金經(jīng)常會(huì)與基體材料發(fā)生嚴(yán)重偏離。

?    光譜儀本身的狀態(tài)，您所需的準(zhǔn)確度高于儀器校準(zhǔn)或漂移效應(yīng)。

日立分析儀器直讀光譜儀系列的總波長(zhǎng)覆蓋范圍介于130至800nm之間，使其很容易獲得潛在破壞性漂移的早期指標(biāo)。會(huì)自動(dòng)監(jiān)測(cè)所有相關(guān)通道的光譜位置，因此在每次分析期間均會(huì)進(jìn)行校正。

雖然這些措施極大地提高了OES光譜儀的穩(wěn)定性，但也偶爾需要進(jìn)行類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化。

類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化的優(yōu)點(diǎn)

如果您的OES受到上述任何因素的影響，類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化可幫助您在標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的基礎(chǔ)上更大程度地提高OES結(jié)果的準(zhǔn)確度。但需要注意，其僅適用于校正成分與類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化樣品相似的未知材料。

應(yīng)在操作同一合金類(lèi)型的一個(gè)或多個(gè)樣品之前進(jìn)行類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化過(guò)程。這將使您能夠真正地對(duì)計(jì)算進(jìn)行微調(diào)。

類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)化不能分析具有顯著不同化學(xué)成分的材料。

日立分析儀器OES光譜儀旨在穩(wěn)定耐用。

日立分析儀器OES光譜儀系列積累了45年多的經(jīng)驗(yàn)和專(zhuān)業(yè)知識(shí)，旨在增加產(chǎn)業(yè)運(yùn)營(yíng)的價(jià)值，而非降低其效率。針對(duì)各類(lèi)質(zhì)量控制需求，我們均有信心為您的業(yè)務(wù)找到合適的解決方案。

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