怎樣解決光譜儀漂移的影響？

許多鑄造廠依賴于直讀光譜儀（OES）來獲得**的分析結(jié)果，就需要解決“漂移”過程；或者由于儀器靈敏度的緩慢變化，這都會影響分析結(jié)果。

保持光譜儀的準確度和精密度意味著要管理這種漂移，而日立分析儀器的OES光譜儀系列旨在確保避免漂移。

漂移的原因是什么？

OES儀器對環(huán)境非常敏感，這些因素會隨著時間的推移影響其準確性。氣壓和溫度的波動是造成這種漂移的主要原因。

部件老化、光學(xué)平面受污染或真空度的變化都會影響分析結(jié)果。

重新校準變得簡單

在持續(xù)使用一段時間后，重新校準會使火花直讀光譜儀恢復(fù)到**性能。但如果漂移問題沒有得到解決，儀器的讀數(shù)還是會不準確，而且一般不會發(fā)現(xiàn)問題的所在。

OES可以隨時監(jiān)控樣品。理想情況下，這些樣品應(yīng)盡可能接近您實際使用的工藝材料。

日立分析儀器解決方案

日立分析儀器的OES光譜儀比競爭對手的更**、更經(jīng)濟、更智能。

日立分析儀光學(xué)系統(tǒng)的總波長范圍為130至800nm，操作員會很容易發(fā)現(xiàn)最初漂移的信號并糾正問題。因此，在每次分析期間，可自動監(jiān)控和校正所有相關(guān)的光譜位置。只要OES本身得到良好維護，漂移就不會導(dǎo)致成本飆升。

日立分析擁有超過45年的金屬行業(yè)經(jīng)驗。